/ Estruturas

Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)

TAIL é uma plataforma analítica de UC de suporte a todas as atividades de I&D que requerem informação detalhada ao nível vestigial (sup-ppm) sobre composição elementar, complementada com imagiologia de alta resolução e/ou medição de propriedades físicas.

Websitehttps://cfisuc.fis.uc.pt/equipment.php
E-mailtail@uc.pt

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Caracterização de filmes finos e multicamadas por refletometria de RX (XRR)

 Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)
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Caracterização de filmes finos e revestimentos por difração de raios-X em incidência rasante (GIXRD)

 Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
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Difratometria de RX a temperatura variável (XRD)

 Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) a temperatura variável (ambiente - 1450 ºC) para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
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Difratometria de RX em policristal (pó) à temperatura ambiente (XRD)

 Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
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